9月16日，澳门沙金联合Chroma中茂电子(深圳)有限公司在厦门“芯火”双创基地（平台）集成电路人才实训基地举办ATE测试解决方案研讨会，研讨会共吸引近二十家集成电路企业工程师和厦门大学等高校在内的在校师生参加。

  随着芯片复杂度的提高，测试方案的多样化，测试成本的与日俱增，Chroma推出ATE测试解决方案，提供各应用场景的完整测试，以满足客户的各种需求。此次研讨会重点分享了Chroma 公司在MCU、高端SOC，以及PMIC测试领先的技术和解决方案。讲师通过实际案例分析及分享，为工程师在后续测试中能有效降低测试成本提供了最佳的技术方案。